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          巨心物聯網實驗室(深圳)有限公司
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          聯系人:程明明               18665867151          0755-86621196


          產品展示 當前位置:首 頁 - 產品展示
          產品名稱:LF-HF射頻綜合測試儀
          詳細信息:

          用于低頻/高頻智能卡、RFID Inlay標簽及電感元件的射頻性能檢測

           

          T8200PRO-G是一款來自日本Testram公司的頂級RFID綜合測試儀。對RFID、智能卡(非接及雙界面)、無線供電、功率電感器的研發及制造、科研教育、實驗室或檢測機構,以及集成到自動化生產線上都是不二之選!

          功能特點:

          ※ 精準測量各種尺寸規格的低頻和高頻諧振器件的性能參數,包括:諧振頻率、衰減量、Q值、支持讀取UID碼以及部分芯片類型的識別

          ※ 能測試傳輸或反射特性(包括方向耦合),可調射頻輸入功率,模擬讀卡器

          ※ 測試結果和波形能自動寫入日志文件

          ※ 預設測試范圍,判定樣品是否合格

          ※ 單機聯電腦版(單品測試用)以及聯機自動化方案(批量生產用)

          應用范圍:

          ※ 智能卡、RFID標簽的諧振頻率檢測:判斷測量結果是否通過;自動生成檢查日志文件;可調射頻功率-30dBm~15dBm芯片綁定前可對射頻天線檢測,如雙界面卡的線圈inlay

          ※ RFID讀寫天線的諧振頻率檢測

          ※ 無線供電線圈及功率電感器件的自諧振頻率檢測


          產品規格:

          測量原理

          磁場耦合

          測量內容

          傳輸電壓和反射電壓的振幅

          檢測項目

          諧振頻率、衰減量、Q值、UID、芯片類型(部分)

          支持協議

          ISO14443AMIFARE Classic, MIFARE Ultralight

          ISO14443B(僅PUPIFelica

          ISO15693 Tag-it HF-I Plus/ProICODE SLIX2

          測量點數

          100~2048

          檢測時間

          高頻頻段測量點數=1000

          諧振頻率檢測:0.5

          諧振頻率和UID讀取:1秒

          檢測結果

          檢測波形保存功能

          檢測日志文件(csv):

          UID通過/不通過諧振頻率、衰減、Q值

          波形數據:.csv.jpg

          頻率設置范圍

          10KHZ~100MHZ

          可調的射頻功率(@50Ωload)

          -30~15dBm

          DIO電路類型

          隔離I/O

          支持系統

          PC(OS) Windows7Windows8.1Windows10

          USB2.0或更高

          電源

          USB總電源(小號電源500毫安或以下)

          包裝清單

          主機、USB接口線、同軸電纜(2根)、高頻標準卡尺寸測試治具、可選的不同尺寸規格測試天線板、安裝驅動盤

          尺寸、重量

          125(W)165(D)x40(H)(不包括測試治具),0.8kg

          歡迎發樣免費測試!

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